中国北京, 2009年6月4日 – 全球领先的测试、测量和监测仪器提供商－－泰克公司日前宣布，为超高速 USB (USB 3.0)设备的检定、调试和自动化一致性测试提供一套完善的新工具组。泰克本次在DPO/DSA70000B示波器上最新推出的USB-TX选件为验证USB 3.0发射机提供了自动的一键式测试解决方案，为工程师带来了更高效的方法，加快产品开发周期。此外，泰克公司还推出了一整套USB 3.0测试夹具，使工程师可以执行更精确的发射机、接收机和电缆测试。
受来自更快数据传输速度的驱使，USB 3.0的性能较当前USB解决方案提高了10倍，但同时也给系统和电路设计人员带来了多重挑战。增加的带宽对关键信号传输和信号保真度提出了更高的要求，因而需要异常准确、功能多样的测试解决方案。当业内其它解决方案只是根据USB-IF测试规范提供标准化测量时，泰克的USB-TX选项则支持所有测量，包括标准化测试和参考性测试，如扩频时钟(SSC)、转换、电压电平等等。客户完全可以信赖其设计验证过程。
其它解决方案只限于特定标准化一致性测试，而泰克USB-TX则提供了全面而完善的一系列检定、调试和一致性测试工具。加上唯一能够以最近距离探测芯片的插头式测试夹具，泰克USB3.0测试解决方案可以最真实地反映信号。
“我们得以提前试用泰克为超高速 USB最新推出的测试解决方案，它为Fresco Logic的USB 3.0芯片设计工艺带来的生产效率上的提高令人激动。”Fresco Logic公司首席技术官Bob McVay说，“AWG7000可以执行接收机容限测试，并能够迅速从发射机一致性测试环境转到调试。事实证明，AWG7000可以节约大量时间。”
高速串行标准自动化框架
选项USB-TX基于TekExpress框架，该框架是专为自动一键式测试高速串行数据标准而开发的。TekExpress模块基于标准机构指定和发布的测试要求和实现方法(MOI)，所有测试流程均自动完成，客户只需选择所需的测试，就可以获得包括通过/失败和余量结果的完整报告。除新推出的USB 3.0解决方案外，泰克目前还为SATA和DisplayPort提供了自动测试模块。
“TekExpress帮助工程师们消除了高速串行数据测试工作中的臆测。在当前环境中，客户要处理多种标准，成为所有领域的专家，这一点极具挑战性。”泰克公司技术解决方案部总经理Ian Valentine说，“TekExpress提供了客户所需的专业技术，并使得他们能够专注于早日将设计投向市场上。”
完整的发射机、接收机和电缆测试解决方案
USB将加入其它高速串行标准，如速率达8 Gb/s 的PCI Express和6 Gb/s的SATA ，成为要求更高的技术之一，从而需要先进的测量仪器，如泰克最新推出的业内领先的DPO/DSA70000B示波器。泰克实时示波器拥有高达20GHz的带宽，提供了业内最优秀的信号保真度、最低的噪底和最高的有效比特数(ENOB)，为高要求的一致性测试和调试测试提供了更大的余量和保真度。对于接收机测试来说，泰克AWG7000B任意波形发生器是唯一可以在一台仪器中生成所有要求信号的解决方案。同时，泰克还通过其DSA8200采样示波器提供了电缆和信道测量解决方案。
