专为以下工程师度身定制:
• 新近接触数据采集
• 新近接触NI数据采集解决方案
• 需要获取NI新产品的详细信息
• 需要建立复杂ATE自动化测试平台
• 渴望加速产品开发周期并大幅提高效率
• 需要更进一步了解NI模块化仪器产品及应用详细内容
您将通过本场研讨会:
• 学习数据采集的基本理论
• 了解如何在数据采集系统配置、编程和维护方面最大限度的提高工程效率
• 掌握选取最佳信号调理、数采设备和应用软件的方法，以应对日益提升的业界挑战，解决您的应用难题
• 了解NI的PXI自动化测试平台和模块化仪器
内容提示：
• 本次研讨会将涉及以下全新产品：
• M系列DAQ产品--NI的高性价比多功能数据采集硬件，为数据采集设定全新标准
• USB DAQ系列--NI便携式数据采集方案新成员
• 了解在创建基于PXI的ATE测试系统时必需的技术要点
• 通过实际的案例学习模块化仪器的应用
研讨会安排：
在三小时的研讨会中，NI主讲工程师将穿插不同演示，帮助您进一步理解NI数据采集解决方案的设定、配置、编程和校准以及基于PXI的模块化仪器的优势所在。
关于模块化仪器：
National Instruments的模块化仪器，集成了紧凑型、高性能测量硬件和灵活的测量软件。模块化仪器硬件：运用包括ADC，DAC，FPGA以及PC总线在内的最新商业技术。模块化仪器软件：如NI LabVIEW，包括了基于内置软件的测量和多种复杂的分析功能。通过使用模块化仪器，测试与设计工程师们只需选择合适的硬件模块以及在工业标准的软件，就可以创建用户自定义的测试测量系统来符合各自不同的测量需求。
时间与地点
2006/05/24 合肥 14:00 - 17:00 合肥安徽饭店2楼嘉宾厅（合肥梅山路18号）
2006/06/08 昆明 14:00 - 17:00 昆明新纪元酒店7楼多功能厅（昆明五华区东凤西路99号）
NI上海分公司联系：上海市曲阳路800号商务大厦6楼（200437），电话:(021)65557838，传真:(021）65556244，E-mail：china.info@ni.com。免费咨询电话：800 820 3622